產品[
高頻光電導少數載流子壽命測試儀 單晶少子壽命測試儀/電阻率＞0.1Ω?cm 型號:ZHLT-1C
]資料
產品名稱:
高頻光電導少數載流子壽命測試儀 單晶少子壽命測試儀/電阻率＞0.1Ω?cm 型號:ZHLT-1C
產品型號:
ZHLT-1C
產品展商:
國產
產品文檔:
*相關文檔
簡單介紹
高頻光電導少數載流子壽命測試儀 單晶少子壽命測試儀/電阻率＞0.1Ω?cm 型號:ZHLT-1C測量范圍壽命測試范圍：10~6000μs， 電阻率＞3Ω?cm；＞10Ω?cm；＞0.1Ω?cm；＞0.05Ω?cm等等（電阻率值越小，壽命測試越難，儀器價位也就越高！）
高頻光電導少數載流子壽命測試儀 單晶少子壽命測試儀/電阻率＞0.1Ω?cm 型號:ZHLT-1C
的詳細介紹
| 高頻光電導少數載流子壽命測試儀 單晶少子壽命測試儀/電阻率＞0.1Ω•cm 型號:ZHLT-1C | |
1、概述
ZHLT-1C高頻光電導少數載流子壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準（F28-75）及標準GB/T1553-1997設計制造。本設備采用高頻光電導衰減測量方法，適用于硅、鍺單晶的少數載流子壽命測量，由于對樣塊體形*嚴格要求，因此**應用于工廠的常規測量。壽命測量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及缺陷存在的情況，是單晶的重要檢測項目。
2、性能
2.1 光脈沖發生裝置重復頻率＞25次/s 脈寬≥60μs 光脈沖關斷時間＜5μs 紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶） 脈沖電源：5A～20A
2.2 高頻源 頻率：30MHz 低輸出阻抗 輸出功率＞1W
2.3 放大器和檢波器頻率響應：3Hz～1MHz
2.4 配用示波器配用示波器：頻帶寬度不低于10MHz,Y軸增益及掃描速度均應連續可調如測量鍺單晶壽命需另行配置適當波長的光源
2.5 測量范圍壽命測試范圍：10~6000μs，
電阻率＞3Ω•cm；＞10Ω•cm；＞0.1Ω•cm；＞0.05Ω•cm等等（電阻率值越小，壽命測試越難，儀器價位也就越高！）
| |